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Titel:

TCAD Modeling of ESD Diode Overshoot During Ultrafast TLP Events

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Groppo, Emanuele; Gossner, Harald; Brederlow, Ralf
Zeitschriftentitel:
IEEE Electron Device Letters
Jahr:
2025
Band / Volume:
46
Heft / Issue:
3
Seitenangaben Beitrag:
468-471
Volltext / DOI:
doi:10.1109/led.2025.3531797
Verlag / Institution:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
E-ISSN:
0741-31061558-0563
Publikationsdatum:
01.03.2025
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