Login
- Titel:
Revealing the negative capacitance effect in silicon quantum dot light-emitting diodes via temperature-dependent capacitance-voltage characterization
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Mock, J; Kallergi, M; Groß, E; Golibrzuch, M; Rieger, B; Becherer, M
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Photonics Journal
- Jahr:
- 2022
- Band / Volume:
- 14
- Heft / Issue:
- 4
- Seitenangaben Beitrag:
- 1--9
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/jphot.2022.3184401
- Verlag / Institution:
- IEEE
BibTeX