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Titel:

Coverage Metrics for Continuous Function Charts

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Alyokhin, V.; Elbel, B.; Rothfelder, M.; Pretschner, A.
Stichworte:
testing, model, coverage
Kongress- / Buchtitel:
Proc. 15th IEEE Intl. Symp. on Software Reliability Engineering (ISSRE'04)
Verlag / Institution:
Institute of Electrical & Electronics Engineers (IEEE)
Jahr:
2004
Volltext / DOI:
doi:10.1109/issre.2004.15
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