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Original title:
Robust Design of DRAM Core Circuits
Original subtitle:
Yield Estimation and Analysis by A Statistical Design Approach
Translated title:
Robustes Design von DRAM-Schaltungen
Translated subtitle:
Ausbeuteschätzung und Analyse mittels einer statistischen Designannäherung
Author:
Li, Yan
Year:
2010
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Advisor:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.)
Referee:
Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.); Thewes, Roland (Prof. Dr.)
Language:
en
Subject group:
ELT Elektrotechnik
Keywords:
DRAM, design for yield, analytical modeling
Abstract:
Yield of DRAM circuits becomes a crucial issue due to ever-increasing bit density and never-stop shrinking technology. In this dissertation, based on statistical mathematics and analytical small signal models analytical yield analysis modeling is applied to DRAM core circuits, so that the yield in nowadays and future DRAM circuits/technology design can be estimated and optimized. With the methods developed here, it is hopeful that DRAM core designs will be more robust and area efficient. It pro...     »
Translated abstract:
Die Ausbeute von DRAM Schaltungen gestaltet sich zunehmend schwieriger mit zunehmender Speicherdichte und immer kleiner werdenden Strukturgrößen. Basierend auf statistischen Methoden und einem analytischen, hierarchisch aufgebauten Schaltungsmodell wird in dieser Dissertation die elektrische Ausbeute von beliebigen DRAM-Schaltungen analysiert. Mit Hilfe dieses Modells kann die Ausbeute von DRAM Schaltungen bezüglich Fläche, Versorgungsspannung, Zellenfeldarchitektur und Ungenauigkeiten der Verst...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=992644
Date of submission:
20.05.2009
Oral examination:
11.06.2010
Pages:
139
Urn (citeable URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20100129-992644-1-3
Last change:
09.08.2010
 BibTeX