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- Titel:
Efficient High-Speed Interface Verification and Fault Analysis
- Autor(en):
- Nirmaier, T.; Zaguirre, J.T.; Hong, E.; Spirkl, W.; Rettenberger, A.; Schmitt-Landsiedel, D.
- Kongress- / Buchtitel:
- Proc. IEEE International Test Conference ITC 2008
- Jahr:
- 2008
- Seiten:
- 1--9
- Serien-ISSN:
- 1089-3539
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