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- Titel:
Analysis of read current and write trip voltage variability from a 1 MBit SRAM test structure
- Autor(en):
- Fischer, T.; Amirante, E.; Huber, P.; Nirschl, T.; Olbrich, A.; Ostermayr, M.; Schmitt-Landsiedel, D.
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
- Jahr:
- 2008
- Band / Volume:
- 21
- Monat:
- Nov.
- Heft / Issue:
- 4
- Seitenangaben Beitrag:
- 534-541
- Sprache:
- emglish
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