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Titel:

Statistical effects of NBTI degradation in SRAM cells

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Art des Konferenzbeitrags:
Vortrag / Präsentation
Autor(en):
Fischer, Thomas
Kongress- / Buchtitel:
Muneda User Group Meeting 2008
Kongress / Zusatzinformationen:
München
Publikationsdatum:
13.11.2008
Jahr:
2008
Sprache:
en
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Format:
Text
 BibTeX