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- Titel:
Statistical effects of NBTI degradation in SRAM cells
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Vortrag / Präsentation
- Autor(en):
- Fischer, Thomas
- Kongress- / Buchtitel:
- Muneda User Group Meeting 2008
- Kongress / Zusatzinformationen:
- München
- Publikationsdatum:
- 13.11.2008
- Jahr:
- 2008
- Sprache:
- en
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Technische Elektronik
- Format:
- Text
BibTeX