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Titel:

Test structures for SRAM cell and device variability and the statistics of NBTI degradation

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Art des Konferenzbeitrags:
Vortrag / Präsentation
Autor(en):
Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Hofmann, Karl; Ostermayr, Martin; Huber, Peter; Schmitt-Landsiedel, Doris
Kongress- / Buchtitel:
Workshop on Variation Test Structures at ICCAD
Kongress / Zusatzinformationen:
San Jose, USA
Publikationsdatum:
13.11.2008
Jahr:
2008
Sprache:
en
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Format:
Text
 BibTeX