Neutron depth profile analysis is a method for the high-precision determination of concentration profiles of certain nuclides in near-surface layers. For an extension to 3D profiling, a detector system based on double-sided silicon strip detectors with a thin and homogeneous dead layer was developed and characterised. The combination of the detectors with application-specific integrated circuits enables profiling at the highest rates.
Translated abstract:
Die Neutronentiefenprofilanalyse ist eine Methode zur hochpräzisen Bestimmung von Konzentrationsprofilen bestimmter Nuklide in oberflächennahen Schichten. Für eine Erweiterung auf 3D-Profilierung wurde ein Detektorsystem basierend auf doppelseitigen Silizium-Streifen-Detektoren mit einer dünnen und homogenen Totschicht entwickelt und charakterisiert. Die Kombination der Detektoren mit anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreisen ermöglicht die Profilerstellung bei höchsten Raten.
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