Modeling and Investigating Total Ionizing Dose Impact on FeFET

Titel:: Modeling and Investigating Total Ionizing Dose Impact on FeFET
Dokumenttyp:: Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):: Sayed, Munazza; Ni, Kai; Amrouch, Hussam
Zeitschriftentitel:: IEEE Journal on Exploratory Solid-State Computational Devices and Circuits (JXCDC)
Jahr:: 2023
Band / Volume:: PP
Monat:: 01
Seitenangaben Beitrag:: 1-1
Volltext / DOI:: doi:10.1109/JXCDC.2023.3325706
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