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Titel:

Impact of Parasitic Wire Resistance on Accuracy and Size of Resistive Crossbars

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Zhang, Lei; Borggreve, David; Vanselow, Frank; Brederlow, Ralf
Kongress- / Buchtitel:
2021 IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
Verlag / Institution:
IEEE
Publikationsdatum:
01.05.2021
Jahr:
2021
Print-ISBN:
9781728192017
Volltext / DOI:
doi:10.1109/iscas51556.2021.9401279
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