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Titel:

Automated SoC Hardening with Model Transformation

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Bavache, Varsha Bhupal; Han, Zhao; Hartlieb, Heimo; Kaja, Endri; Devarajegowda, Keerthikumara; Ecker, Wolfgang
Kongress- / Buchtitel:
Baltic Electronics Conference (BEC)
Ausrichter der Konferenz:
IEEE
Jahr:
2020
Seiten:
1--6
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