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Titel:

Transient analysis of latent damage formation in SMD capacitors by Transmission Line Pulsing (TLP)

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Helmut, D.; Wachutka, G.; Groos, G.
Seitenangaben Beitrag:
pp. 97-101
Kongress- / Buchtitel:
28th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
Kongress / Zusatzinformationen:
Microelectronics Reliability, Vol. 76-77, 2017
Jahr:
2017
Jahr / Monat:
2017-09
Monat:
Sep
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektrophysik
Eingabe:
18.10.2018
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