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- Titel:
Transient analysis of latent damage formation in SMD capacitors by Transmission Line Pulsing (TLP)
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Autor(en):
- Helmut, D.; Wachutka, G.; Groos, G.
- Seitenangaben Beitrag:
- pp. 97-101
- Kongress- / Buchtitel:
- 28th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
- Kongress / Zusatzinformationen:
- Microelectronics Reliability, Vol. 76-77, 2017
- Jahr:
- 2017
- Jahr / Monat:
- 2017-09
- Monat:
- Sep
- TUM Einrichtung:
- Lehrstuhl für Technische Elektrophysik
- Eingabe:
- 18.10.2018
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