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Baumann_KHB_2008

Titel:: Impact of Technology and Microarchitecture on the Robustness of Embedded Low-Power Microprocessors
Autor(en):: Baumann, T.; Schmitt-Landsiedel, Doris; Pacha, Christian
Kongress- / Buchtitel:: Kleinheubacher Tagung
Jahr:: 2008
Monat:: sep
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Vorkommen:

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