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Autor(en):
Kleeberger, Veit B.; Graeb, Helmut; Schlichtmann, Ulf 
Titel:
Modellierung und Evaluierung von Standardzellen in FinFET-Technologie 
Kongress- / Buchtitel:
GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf 
Jahr:
2013 
Monat:
sep