Benutzer: Gast  Login
Titel:

A model and sensitivity analysis of the quality economics of defect-detection techniques

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Wagner, Stefan
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the 2006 international symposium on Software testing and analysis
Verlag / Institution:
ACM
Publikationsdatum:
21.07.2006
Jahr:
2006
Volltext / DOI:
doi:10.1145/1146238.1146247
 BibTeX