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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Niedermayr, Rainer; Röhm, Tobias; Wagner, Stefan
Titel:
Too trivial to test? An inverse view on defect prediction to identify methods with low fault risk
Zeitschriftentitel:
PeerJ Computer Science
Jahr:
2019
Band / Volume:
5
Seitenangaben Beitrag:
e187
Verlag / Institution:
PeerJ Inc.
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