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- Titel:
Localization and Detection of Bond Wire Faults in Multichip IGBT Power Modules
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Chen, Cuili; Pickert, Volker; Al-Greer, Maher; Jia, Chunjiang; Ng, Chong
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Transactions on Power Electronics
- Jahr:
- 2020
- Band / Volume:
- 35
- Heft / Issue:
- 8
- Seitenangaben Beitrag:
- 7804-7815
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/tpel.2020.2965019
- Verlag / Institution:
- Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
- E-ISSN:
- 0885-89931941-0107
- Publikationsdatum:
- 01.08.2020
BibTeX
Vorkommen:
- mediaTUM GesamtbestandEinrichtungenSchools TUM School of Computation, Information and TechnologyDepartmentsComputer EngineeringInformatik 6 - Lehrstuhl für Robotik, Künstliche Intelligenz und Echtzeitsysteme (Prof. Knoll)