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Titel:

Model-Based Test Case Generation for Smart Cards1 1Support by the BMBF (project EMPRESS) is gratefully acknowledged.

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Philipps, J.; Pretschner, A.; Slotosch, O.; Aiglstorfer, E.; Kriebel, S.; Scholl, K.
Seitenangaben Beitrag:
170-184
Stichworte:
testing, model
Kongress- / Buchtitel:
Electronic Notes in Theoretical Computer Science
Verlag / Institution:
Elsevier BV
Publikationsdatum:
01.08.2003
Jahr:
2003
Volltext / DOI:
doi:10.1016/s1571-0661(04)80817-x
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