Nanostructuring and understanding morphology-property correlation in semiconductor thin films
Übersetzter Titel:
Nanostrukturierung und Verständnis der Morphologie-Eigenschafts-Korrelation in Halbleiter-Dünnschichten
Autor:
Wang, Rui
Jahr:
2018
Dokumenttyp:
Dissertation
Fakultät/School:
Fakultät für Physik
Betreuer:
Müller-Buschbaum, Peter (Prof. Dr.)
Gutachter:
Müller-Buschbaum, Peter (Prof. Dr.); Sharp, Ian (Prof. Dr.)
Sprache:
en
Fachgebiet:
ERG Energietechnik, Energiewirtschaft; PHY Physik; WER Werkstoffwissenschaften
TU-Systematik:
PHY 600d; WER 000d; ERG 000d
Kurzfassung:
In this thesis the morphology and the functional properties of two kinds of semiconductor thin films based on conjugated diblock copolymer and organometal halide perovskite are investigated. The focus is on tailoring the nanostructure and on elucidating its impact on the optoelectronic and optical behaviors. X-ray and neutron scattering techniques are combined with surface sensitive imaging methods to obtain a full picture of the resulting morphology.
Übersetzte Kurzfassung:
In dieser Dissertation wurden die Morphologie und die funktionellen Eigenschalten von zwei dünnen Halbleiterfilmen am konjugiertem Diblockcopolymeren und Organometall Halogenid-Perovskit untersucht. Der Fokus lag darauf, die Nanostruktur zu verändern und dessen Einfluss auf optoelektronische und optische Verhaltensweisen zu erläutern. Röntgen- und Neutronenstreumethoden wurden in Kombination mit oberflächensensitiven Bildgebungsverfahren verwendet, um die resultierenden Morphologie zu bestimmen.
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