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Titel:

Analysis of read current and write trip voltage variability from a 1 MBit SRAM test structure

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Huber, Peter; Nirschl, Thomas; Olbrich, Alexander; Ostermayr, Martin; Schmitt-Landsiedel, Doris
Zeitschriftentitel:
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
Jahr:
2008
Band / Volume:
21
Heft / Issue:
4
Sprache:
en
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Format:
Text
 BibTeX