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Titel:

A 65nm test structure for the analysis of NBTI induced statistical variation in SRAM transistors

Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Fischer, Thomas; Amirante, Ettore; Hofmann, Karl; Ostermayr, Martin; Huber, Peter; Schmitt-Landsiedel, Doris
Zeitschriftentitel:
Proc. of ESSDERC
Jahr:
2008
Seitenangaben Beitrag:
51-54
Sprache:
de
TUM Einrichtung:
Lehrstuhl für Technische Elektronik
Format:
Text
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