The foreseen upgrade of the CRESST experiment aims to deploy hundreds of detectors equipped with transition-edge sensors (TES). The investigated sputtering process allows for a more reliable and much quicker TES fabrication. This work explains the effect of the process parameters on the Tc as well as some design aspects required to precisely tune the Tc. Thanks to a new approach, it is now possible to produce TESs with unprecedented reproducibility.
Translated abstract:
Das geplante Upgrade des CRESST-Experiments zielt darauf ab, Hunderte von Detektoren einzusetzen, die mit Transition-Edge-Sensoren (TES) ausgestattet sind. Der untersuchte Sputterprozess ermöglicht eine zuverlässigere und wesentlich schnellere TES-Herstellung. Diese Arbeit erklärt den Einfluss der Prozessparameter auf den Tc sowie einige Designaspekte, die für die genaue Abstimmung des Tc erforderlich sind. Dank eines neuen Ansatzes ist es nun möglich, TESs mit noch nie dagewesener Reproduzierbarkeit herzustellen.
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Das geplante Upgrade des CRESST-Experiments zielt darauf ab, Hunderte von Detektoren einzusetzen, die mit Transition-Edge-Sensoren (TES) ausgestattet sind. Der untersuchte Sputterprozess ermöglicht eine zuverlässigere und wesentlich schnellere TES-Herstellung. Diese Arbeit erklärt den Einfluss der Prozessparameter auf den Tc sowie einige Designaspekte, die für die genaue Abstimmung des Tc erforderlich sind. Dank eines neuen Ansatzes ist es nun möglich, TESs mit noch nie dagewesener Reproduzierba...
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