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Originaltitel:
Atomistic positioning of defects in two-dimensional materials for quantum technology and catalysis
Übersetzter Titel:
Atomistische Positionierung von Defekten in zweidimensionalen Materialien für Quantentechnologie und Katalyse
Autor:
Mitterreiter, Elmar
Jahr:
2020
Dokumenttyp:
Dissertation
Fakultät/School:
Fakultät für Physik
Betreuer:
Holleitner, Alexander (Prof. Dr.)
Gutachter:
Holleitner, Alexander (Prof. Dr.); Auwärter, Wilhelm (Prof. Dr.)
Sprache:
en
Fachgebiet:
PHY Physik
TU-Systematik:
TEC 030d; PHY 685d; ELT 300d
Kurzfassung:
In this doctoral thesis, we use a helium ion microscope (HIM) to place individual point defects in MoS2 and examine their physical properties for future applications in quantum technology and catalysis. We use scanning probe microscopy to study the interactions of helium ions with MoS2 and identify several different defect types. Subsequently, we study the optical properties of these defects. Furthermore, we investigate the catalytic properties of pristine and helium ion irradiated MoS2 for appl...     »
Übersetzte Kurzfassung:
In dieser Doktorarbeit benutzen wir ein Helium Ionen Mikroskop um einzelne Punktdefekte in MoS2 zu platzieren und untersuchen ihre physikalischen Eigenschaften für zukünftige Anwendungen in Quantentechnologie und Katalyse. Wir benutzen Rastersondenmikroskopie um die Wechselwirkung von Helium Ionen mit MoS2 zu verstehen und identifizieren mehrere verschiedene Defekttypen. Anschließend inspizieren wir die optischen Eigenschaften dieser Defekte. Außerdem betrachten wir die katalytischen Eigenschaft...     »
Serie / Reihe:
Selected Topics of Semiconductor Physics and Technology
Bandnummer:
237
ISBN:
978-3-946379-37-9
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1575477
Eingereicht am:
12.10.2020
Mündliche Prüfung:
25.11.2020
Letzte Änderung:
25.02.2021
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