User: Guest  Login
Original title:
Through Silicon Via Virtualization for Fault-Tolerant Multi-Protocol Interconnect in 3D-ICs
Translated title:
Virtualisierung von Siliziumdurchkontaktierungen für fehlertolerante Multi-Protokoll-Verbindungen in 3D-ICs
Author:
Miller, Felix Reinhard
Year:
2018
Document type:
Dissertation
Faculty/School:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Advisor:
Herkersdorf, Andreas (Prof. Dr.)
Referee:
Herkersdorf, Andreas (Prof. Dr.); Schlichtmann, Ulf (Prof. Dr.)
Language:
en
Subject group:
ELT Elektrotechnik
Keywords:
Through Silicon Via, TSV, 3D-IC, NoC, application specific NoC, Network-on-Chip, fault tolerance, System-On-Chip, NoC Synthesis
Translated keywords:
Siliziumdurchkontaktierung, TSV, 3D-IC, NoC, Applikationsspezifisches NoC, on-chip-Netzwerk, Fehlertoleranz, System-On-Chip, NoC-Synthese
TUM classification:
DAT 200d
Abstract:
3D-ICs with through silicon vias (TSVs) allow multiplication of circuit capacities with constant area footprint. This dissertation covers the optimization of on-chip communication networks (NoCs) for 3D-ICs. A configurable circuit module for bundling vertical links to leverage physical properties of TSVs, like higher clocking of less RC loaded links is presented. With this approach, we could demonstrate a significant reduction of TSV induced area and achieved increased reliability. Furthermore,...     »
Translated abstract:
3D-ICs mit Siliziumdurchkontaktierungen (TSVs) erlauben die Integrationsdichte bei gleichbleibender Grundfläche zu vervielfachen. Diese Dissertation beschäftigt sich mit der Optimierung integrierter Kommunikationsnetzwerke (NoCs) für 3D-ICs. Ein synthetisierbares und konfigurierbares Schaltungsmodul bündelt vertikale Verbindungen zur Ausnutzung physikalischer TSV-Eigenschaften durch Erhöhung der Taktfrequenz auf Links mit geringer RC-Last. Mit diesem Ansatz wurde eine signifikante Verringerung d...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1379744
Date of submission:
14.09.2017
Oral examination:
26.09.2018
File size:
10331063 bytes
Pages:
184
Urn (citeable URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20180926-1379744-1-3
Last change:
12.10.2018
 BibTeX