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Original title:
Entwurfsverfahren zum impliziten funktionalen Test analoger integrierter Schaltungen
Translated title:
Design methods to the implicit functional test of analog integrated circuits
Author:
Glöckel, Volker
Year:
2004
Document type:
Dissertation
Institution:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Advisor:
Antreich, Kurt (Prof. Dr.)
Referee:
Antreich, Kurt (Prof. Dr.); Schmitt-Landsiedel, Doris (Prof. Dr.)
Format:
Text
Language:
de
Subject group:
ELT Elektrotechnik
Abstract:
Diese Arbeit stellt simulationsbasierte Verfahren zum aufwendigen Entwurf von Testkriterien für analoge integrierte Schaltungskomponenten vor, nach denen Schaltungen beim Test angenommen oder aussortiert werden. Dabei werden mit robusten Optimierverfahren unter Berücksichtigung von Messfehlern die Zielgrößen Ausbeuteeinbuße und Fehlerdurchlässigkeit minimiert, die die Qualität eines Tests bestimmen. Zur effizienten Berechnung der Zielgrößen profitieren die Verfahren von bereits vorhandenen Ergeb...    »
Translated abstract:
This thesis presents simulation-based methods for the complex design of go/no-go test criteria for analog integrated circuits. Based on robust optimization methods, the objectives yield loss and fault loss, which determine the quality of a test, are minimized considering measurement errors. For an efficient calculation of the robustness measures, the methods benefit from available results of circuit design and yield optimization. Due to a subtle combination of deterministic and stochastic approa...    »
Publication :
Universitätsbibliothek der TU München
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=601586
Date of submission:
14.05.2003
Oral examination:
16.06.2004
File size:
1018812 bytes
Pages:
131
Urn (citeable URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss2004061616133
Last change:
25.06.2007
 BibTeX