Login
- Titel:
Too trivial to test? An inverse view on defect prediction to identify methods with low fault risk
- Dokumenttyp:
- Zeitschriftenaufsatz
- Autor(en):
- Niedermayr, Rainer; Röhm, Tobias; Wagner, Stefan
- Zeitschriftentitel:
- PeerJ Computer Science
- Jahr:
- 2019
- Band / Volume:
- 5
- Seitenangaben Beitrag:
- e187
- Verlag / Institution:
- PeerJ Inc.
BibTeX