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Originaltitel:
Design of a fully CMOS compatible Mechanical Stress Sensor
Übersetzter Titel:
Entwurf eines vollständig CMOS-kompatiblen mechanischen Spannungssensors
Autor:
Nurmetov, Umidjon
Jahr:
2021
Dokumenttyp:
Dissertation
Fakultät/School:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Betreuer:
Brederlow, Ralf (Prof. Dr.)
Gutachter:
Brederlow, Ralf (Prof. Dr.)Thewes, Roland (Prof. Dr.)
Sprache:
en
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik
Stichworte:
calibration, CMOS integrated circuits, integrated circuit design, low-power electronics, sensors, stress measurement
TU-Systematik:
ELT 400d
Kurzfassung:
This thesis summarizes research and development results of the cooperative project between Technical University of Munich and Texas Instruments Freising on the next generation sensors systems for evaluation of mechanical stress within integrated circuits (ICs) and beyond.
Übersetzte Kurzfassung:
Diese Arbeit fasst die Forschungs- und Entwicklungsergebnisse des Kooperationsprojekts zwischen der Technischen Universität München und Texas Instruments Freising über die Sensorsysteme der nächsten Generation zur Bewertung mechanischer Beanspruchungen innerhalb von integrierten Schaltungen und darüber hinaus zusammen.
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1546835
Eingereicht am:
26.06.2020
Mündliche Prüfung:
18.03.2021
Dateigröße:
15589894 bytes
Seiten:
114
Urn (Zitierfähige URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20210318-1546835-1-9
Letzte Änderung:
03.05.2021
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