An n- and a p-type segmented point contact detector were studied in depth in a temperature controlled cryostat. The anisotropy in drift velocity along different axes decreases with higher detector temperature. Comparisons of simulations performed with a newly developed software package to data revealed, that the widely used electron drift model needs to be improved. Events underneath the passivated areas of the detectors showed temperature dependent deterministic hole trapping for the n-type.
Übersetzte Kurzfassung:
Ein segmentierter n- und ein p-typ Detektor wurden eingehend in einem temperaturgeregelten Kryostaten untersucht. Die Anisotropie der Driftgeschwindigkeit entlang der verschiedenen Kristallachsen sinkt für höhere Detektortemperaturen. Vergleiche von Daten und Simulationen mit einer neuen Software zeigen, dass das weitverbreite Elektrondriftmodell verbessert werden muss. Unter der passivierten Oberfläche des n-typ Detektors wurde temperaturabhängiges deterministisches "hole trapping" beobachtet.
Login
BibTeX