The main goal of this dissertation is to construct and study the moduli stack of bielliptic surfaces, whose geometric points correspond to bielliptic surfaces over algebraically closed fields of characteristic different from 2 and 3. We show that the moduli stack splits into seven disjoint components each of which is a substack parameterizing bielliptic surfaces of a given type. We then turn our attention to the study of one of these components, which we relate to a product of modular stacks parameterizing elliptic curves with extra torsion data.     «

The main goal of this dissertation is to construct and study the moduli stack of bielliptic surfaces, whose geometric points correspond to bielliptic surfaces over algebraically closed fields of characteristic different from 2 and 3. We show that the moduli stack splits into seven disjoint components each of which is a substack parameterizing bielliptic surfaces of a given type. We then turn our attention to the study of one of these components, which we relate to a product of modular stacks par...     »

Das Hauptziel dieser Dissertation ist die Konstruktion und Untersuchung des Modulstacks bielliptischer Flächen, dessen geometrische Punkte bielliptischen Flächen über algebraisch abgeschlossenen Körpern der Charakteristik ungleich 2 und 3 entsprechen. Wir zeigen, dass der Modulstack in sieben disjunkte Komponenten zerfällt. Jede dieser Komponenten ist ein Unterstack, welcher bielliptische Flächen eines bestimmten Typs parametrisiert. Anschließend untersuchen wir eine dieser Komponenten, indem wir sie in Verbindung mit einem Produkt von modularen Stacks bringen, welche elliptische Kurven mit zusätzlichem Torsions-Datum parametrisieren.      «

Das Hauptziel dieser Dissertation ist die Konstruktion und Untersuchung des Modulstacks bielliptischer Flächen, dessen geometrische Punkte bielliptischen Flächen über algebraisch abgeschlossenen Körpern der Charakteristik ungleich 2 und 3 entsprechen. Wir zeigen, dass der Modulstack in sieben disjunkte Komponenten zerfällt. Jede dieser Komponenten ist ein Unterstack, welcher bielliptische Flächen eines bestimmten Typs parametrisiert. Anschließend untersuchen wir eine dieser Komponenten, indem wi...     »