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- Titel:
Modeling and simulation of an active restoring mechanism for high reliability switches in RF-MEMS technology
- Dokumenttyp:
- Konferenzbeitrag
- Art des Konferenzbeitrags:
- Vortrag / Präsentation
- Autor(en):
- Künzig, T.; Schrag, G.; Iannacci, J.
- Kongress- / Buchtitel:
- Proceedings of the 23rd European Sysmposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis
- Kongress / Zusatzinformationen:
- ESREF2012, October 1-5, Cagliari, Italy
- Verlag / Institution:
- Elsevier
- Verlagsort:
- Amsterdam
- Jahr:
- 2012
- Reviewed:
- ja
- Sprache:
- en
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