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Title:

Sizing of Analog Integrated Circuits using Symmetry Recognition

Document type:
Report / Forschungsbericht
Author(s):
M. Eick, K. Lu, H. Graeb
Dewey Decimal Classification:
620
Contracting organization:
Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung
Date of publication:
04.03.2010
Year:
2010
Pages:
15
Language:
en
TUM Institution:
Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung
Format:
Text
Ingested:
05.03.2010
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