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Title:

Robustheit nanoelektronischer Schaltungen und Systeme

Author(s):
Radetzki, Martin; Bringmann, Oliver; Nebel, Wolfgang; Olbrich, Markus; Salfelder, Felix; Schlichtmann, Ulf
Editor:
Martin Barke, Lars Hedrich, Domenik Helms, Kai Hylla, Michael Kärgel, Weiyun Lu, Björn Sander, Volker Schöber
Book / Congress title:
GMM/GI/ITG-Fachtagung Zuverlässigkeit und Entwurf
Publisher:
Zuverlässigkeit und Entwurf, 4. GMM/GI/ITG-Fachtagung, Wildbad Kreuth
Year:
2010
Month:
sep
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