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Author(s):
Chouard, Florian Raoul; Fulde, Michael; Schmitt-Landsiedel, Doris
Title:
Reliability Assessment of Voltage Controlled Oscillators in 32nm High-k Metal Gate Technology
Pages contribution:
410-413
Book / Congress title:
European Solid-State Circuits Conference
Year:
2010
Month:
sep
Bookseries title:
ESSCIRC Proceedings
Fulltext / DOI:
doi:10.1109/ESSCIRC.2010.5619730
BibTeX
Occurrences:
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