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- Titel:
Reliability Assessment of Voltage Controlled Oscillators in 32nm High-k Metal Gate Technology
- Autor(en):
- Chouard, Florian Raoul; Fulde, Michael; Schmitt-Landsiedel, Doris
- Seitenangaben Beitrag:
- 410-413
- Kongress- / Buchtitel:
- European Solid-State Circuits Conference
- Jahr:
- 2010
- Monat:
- sep
- Serientitel:
- ESSCIRC Proceedings
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/ESSCIRC.2010.5619730
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