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Titel:
Learning Temporal Specifications from Imperfect Traces Using Bayesian Inference
Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Mrowca, Artur; Nocker, Martin; Steinhorst, Sebastian; Guennemann, Stephan
Stichworte:
bayesian inference, data-driven verification, path merging, specification mining
Kongress- / Buchtitel:
Proceedings of the 56th Design Automation Conference (DAC 2019)
Verlag / Institution:
ACM
Verlagsort:
New York, NY, USA
Jahr:
2019
Monat:
6
Seiten:
96:1--96:6
Print-ISBN:
978-1-4503-6725-7
Serientitel:
DAC '19
Volltext / DOI:
doi:10.1145/3316781.3317847
WWW:
https://s-steinhorst.github.io/PDF/2019-DAC-Learning Temporal Specifications from Imperfect Traces using Bayesian Inference.pdf
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Vorkommen:
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Elektrotechnik und Informationstechnik
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