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Titel:

Risiken von Technical Debt identifizieren und managen

Dokumenttyp:
Konferenzbeitrag
Autor(en):
Aicher, Thomas; Dong, Quang Huan; Vogel-Heuser, Birgit
Abstract:
Oft muss bei der Behebung eines technischen Problems unter Zeitdruck zwischen einer aufwandsarmen „suboptimalen“ Lösung und der aufwändigeren „besseren“ Lösung entschieden werden. Diese Frage stellen sich Ingenieure, Techniker und Entscheider häufig bei der Entwicklung, dem Betrieb bzw. der Inbetriebnahme eines Embedded Systems (ES). Dabei müssen diese die Projektsituation, die verbleibende Laufzeit und Kosten berücksichtigen. Unter dem Begriff der technischen Schuld, also der Technical Debt (TD...     »
Kongress- / Buchtitel:
Embedded Software Engineering (ESE) Kongress
Verlagsort:
Sindelfingen, Deutschland
Jahr:
2017
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