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Titel:

A Compact Model for NBTI Degradation and Recovery under Use-Profile Variations and its Application to Aging Analysis of Digital Integrated Circuits

Autor(en):
Kleeberger, Veit B.; Barke, Martin; Werner, Christoph; Schmitt-Landsiedel, Doris; Schlichtmann, Ulf
Zeitschriftentitel:
Microelectronics Reliability
Jahr:
2014
Band / Volume:
54
Monat:
June-July
Heft / Issue:
6-7
Seitenangaben Beitrag:
1083-1089
Volltext / DOI:
doi:10.1016/j.microrel.2013.12.002
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