Moderne integrierte Schaltungen sind empfindlich gegenüber ionisierten Partikeln, die Speicherinhalte verändern können, jedoch keine permanenten Schäden verursachen müssen. Verschiedene Fehlermaskierungseffekte und Methoden zur Bestimmung der Fehlermaskierung wurden untersucht. Ein neuartiges Verfahren zur Bestimmung der Fehlermaskierung wurde vorgestellt und im Detail erklärt. Dieses Verfahren wurde mit andere bekannten Verfahren verglichen, um die Richtigkeit der erzeugten Ergebnisse und die niedrige Laufzeit nachzuweisen.     «

Moderne integrierte Schaltungen sind empfindlich gegenüber ionisierten Partikeln, die Speicherinhalte verändern können, jedoch keine permanenten Schäden verursachen müssen. Verschiedene Fehlermaskierungseffekte und Methoden zur Bestimmung der Fehlermaskierung wurden untersucht. Ein neuartiges Verfahren zur Bestimmung der Fehlermaskierung wurde vorgestellt und im Detail erklärt. Dieses Verfahren wurde mit andere bekannten Verfahren verglichen, um die Richtigkeit der erzeugten Ergebnisse und die n...     »

Modern integrated circuits are susceptible to ionized particles causing altered memory contents, but no permanent damage of the device. Several error derating effects and methods to quantify the error masking were analyzed. A new algorithm for error masking estimation was proposed and explained in detail. The algorithm was verified against known methods showing the correctness of the generated results and very low runtime behavior. The results can help to estimate the error rate of future designs and minimize the efforts for hardening of those circuits.     «

Modern integrated circuits are susceptible to ionized particles causing altered memory contents, but no permanent damage of the device. Several error derating effects and methods to quantify the error masking were analyzed. A new algorithm for error masking estimation was proposed and explained in detail. The algorithm was verified against known methods showing the correctness of the generated results and very low runtime behavior. The results can help to estimate the error rate of future design...     »