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- Titel:
Modeling of NBTI-recovery effects in analog CMOS circuits
- Autor(en):
- Yilmaz, Cenk; Heiss, Leonhard; Werner, Christoph; Schmitt-Landsiedel, Doris
- Kongress- / Buchtitel:
- IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
- Jahr:
- 2013
- Seiten:
- 2A.4.1 - 2A.4.4
- Volltext / DOI:
- doi:10.1109/IRPS.2013.6531944
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