Für das Upgrade des Teilchenphysikexperiments Belle zu Belle II wird ein neuer Pixeldetektor entwickelt. Dieser besteht aus acht Millionen Pixeln, welche aus DEPFETs aufgebaut sind. Diese DEPFETs werden durch die am Experiment entstehende Strahlung geschädigt. In dieser Arbeit wurden die Auswirkung von Strahlung auf DEPFETs und die Veränderung der Eigenschaften des Pixeldetektors untersucht. Hierbei wurden Produktionsparameter von Teststrukturen variiert um optimale Arbeitsbedingungen während des Experiments zu ermöglichen.
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Für das Upgrade des Teilchenphysikexperiments Belle zu Belle II wird ein neuer Pixeldetektor entwickelt. Dieser besteht aus acht Millionen Pixeln, welche aus DEPFETs aufgebaut sind. Diese DEPFETs werden durch die am Experiment entstehende Strahlung geschädigt. In dieser Arbeit wurden die Auswirkung von Strahlung auf DEPFETs und die Veränderung der Eigenschaften des Pixeldetektors untersucht. Hierbei wurden Produktionsparameter von Teststrukturen variiert um optimale Arbeitsbedingungen während de...
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