Login
- Titel:
DRAM Yield Analysis and Optimization by a Statistical Design Approach
- Autor(en):
- Li, Yan; Schneider, H.; Schnabel, F.; Thewes, R.; Schmitt-Landsiedel, D.
- Zeitschriftentitel:
- IEEE Transactions on Circuit and Systems I: Regular Papers
- Jahr:
- 2011
- Band / Volume:
- 58
- Heft / Issue:
- 12
- Seitenangaben Beitrag:
- 2906-2918
BibTeX