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Titel:

A method to analyze the impact of fast-recovering NBTI degradation on the stability of large-scale SRAM arrays

Autor(en):
Drapatz, S.; Hofmann, K.; Georgakos, G.; Schmitt-Landsiedel, D.
Kongress- / Buchtitel:
European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC) / European Solid-State Circuits Converence (ESSCIRC)
Band / Teilband / Volume:
65-66
Jahr:
2011
Seiten:
191-196
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