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Titel:

Measurement and VBIC Parameter Extraction of SiGe-Transistors

Autor(en):
di Paola, A.; Olbrich, Gerhard R.
Kongress- / Buchtitel:
11th Conference and Exhibition on Microwaves, Radio Communication and Electromagnetic Compatibility (MIOP)
Verlagsort:
Stuttgart, Germany
Jahr:
2001
Monat:
may
Seiten:
260--262
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