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Dokumenttyp:
Zeitschriftenaufsatz
Autor(en):
Ansari, Homa; De Zan, Francesco; Parizzi, Alessandro
Titel:
Study of Systematic Bias in Measuring Surface Deformation With SAR Interferometry
Zeitschriftentitel:
IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing
Jahr:
2021
Band / Volume:
59
Heft / Issue:
2
Seitenangaben Beitrag:
1285-1301
Volltext / DOI:
doi:10.1109/tgrs.2020.3003421
Verlag / Institution:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
E-ISSN:
0196-28921558-0644
Publikationsdatum:
01.02.2021
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