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Fakultäten
Elektrotechnik und Informationstechnik
Messsystem- und Sensortechnik (Prof. Koch)
Document type:
Konferenzbeitrag
Contribution type:
Elektronisches Dokument
Author(s):
Dong, X.; Li, Z.; Dong, J.; Wang, K.; Köhler, M.H.; Jakobi, M.; Koch, A.W.
Title:
Line-scan hyperspectral imaging microscopy with structured illumination
Editor:
Proceedings SPIE
Book / Congress title:
SPIE Optical Engineering + Applications
Congress (additional information):
Unconventional Imaging and Adaptive Optics 2020
Volume:
Volume 11508
Date of publication:
20.08.2020
Year:
2020
Fulltext / DOI:
doi:10.1117/12.2565944
WWW:
https://www.spiedigitallibrary.org/conference-proceedings-of-spie/11508/2565944/Line-scan-hyperspectral-imaging-microscopy-with-structured-illumination/10.1117/12.2565944.short
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Occurrences:
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Elektrotechnik und Informationstechnik
Messsystem- und Sensortechnik (Prof. Koch)
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Electrical Engineering
Messsystem- und Sensortechnik (Prof. Koch)
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