User: Guest  Login
Title:

Hyperspektrales Abbildungsmikroskopie-Linienscanverfahren zur schnellen, großflächigen Dickenabbildung von zweidimensionalen Materialien

Document type:
Patentanmeldung
Patent application number:
DE 10 2020 XXX XXX.X
Inventor:
Dong, Xingchen
Patent office:
Germany
Date of application:
24.03.2020
Year:
2020
 BibTeX