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Originaltitel:
Hyperspectral imaging microscopy for atomic layer mapping of two-dimensional materials
Übersetzter Titel:
Hyperspektrale Bildgebungsmikroskopie zur atomaren Schichtkartierung zweidimensionaler Materialien
Autor:
Dong, Xingchen
Jahr:
2021
Dokumenttyp:
Dissertation
Fakultät/School:
Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik
Betreuer:
Koch, Alexander W. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.)
Gutachter:
Koch, Alexander W. (Prof. Dr. habil. Dr. h.c.); Ntziachristos, Vasilis (Prof. Dr.)
Sprache:
en
Fachgebiet:
ELT Elektrotechnik
TU-Systematik:
MSR 050
Kurzfassung:
This work studies the suitability of hyperspectral imaging microscopy for rapid and accurate atomic layer mapping of two-dimensional (2D) materials. A hyperspectral imaging system including a line-scan hyperspectral imaging microscope, system control, data acquisition, and data processing was custom built. A manual interpretation method based on hyperspectral library and spectral unmixing was developed for layer maps reconstruction with one-atomic-layer resolution. A deep fusion neural network b...     »
Übersetzte Kurzfassung:
Diese Arbeit untersucht die Eignung der hyperspektralen Bildgebungsmikroskopie für die schnelle und genaue Kartierung der Atomschicht zweidimensionaler (2D) Materialien. Ein hyperspektrales Bildgebungssystem mit einem Hyperspektralbildmikroskop mit Zeilenscan, Systemsteuerung, Datenerfassung und Datenverarbeitung wurde speziell angefertigt. Eine manuelle Interpretationsmethode basierend auf hyperspektraler Bibliothek und spektraler Entmischung wurde für die Rekonstruktion von Schichtkarten mit e...     »
WWW:
https://mediatum.ub.tum.de/?id=1595791
Eingereicht am:
17.02.2021
Mündliche Prüfung:
12.11.2021
Dateigröße:
9154653 bytes
Seiten:
173
Urn (Zitierfähige URL):
https://nbn-resolving.de/urn/resolver.pl?urn:nbn:de:bvb:91-diss-20211112-1595791-1-3
Letzte Änderung:
24.01.2022
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